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Libro

EXAFS spectroscopy : techniques and applications

edited by B.K. Teo and D.C. Joy.

New York : Plenum Press, ©1981.

viii, 275 págs. : ilustraciones ; 26 cm.

ISBN: 0306406543

"Based on proceedings of a symposium held at the meeting of the Materials Research Society, Nov. 26-30, 1979, in Boston".

Incluye referencias bibliográficas e índice.

 
Registro 000437 · Modificado: 23/05/2008

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